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Nanoparticle Characterization: What to Measure?

Modena, Mario M. ; Rühle, Bastian ; Burg, Thomas P. ; Wuttke, Stefan (2019)
Nanoparticle Characterization: What to Measure?
In: Advanced Materials
doi: 10.1002/adma.201901556
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2019
Autor(en): Modena, Mario M. ; Rühle, Bastian ; Burg, Thomas P. ; Wuttke, Stefan
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Nanoparticle Characterization: What to Measure?
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2019
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Advanced Materials
DOI: 10.1002/adma.201901556
URL / URN: https://doi.org/10.1002/adma.201901556
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Integrierte Mikro-Nano-Systeme
Hinterlegungsdatum: 17 Jun 2019 05:24
Letzte Änderung: 17 Jun 2019 05:24
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