Hajo, A. S. ; Yilmazoglu, O. ; Küppers, F. ; Dadgar, A. (2018)
Reliability Improvement of High-Power THz GaN Gunn Sources for Active Imaging Systems.
2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz).
doi: 10.1109/IRMMW-THz.2018.8510363
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2018 |
| Autor(en): | Hajo, A. S. ; Yilmazoglu, O. ; Küppers, F. ; Dadgar, A. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Reliability Improvement of High-Power THz GaN Gunn Sources for Active Imaging Systems |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | September 2018 |
| Veranstaltungstitel: | 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) |
| DOI: | 10.1109/IRMMW-THz.2018.8510363 |
| Freie Schlagworte: | gallium compounds;Gunn diodes;heat sinks;III-V semiconductors;terahertz wave imaging;wide band gap semiconductors;higher output power;high diode current;field plate technology;heat sink;THz Gunn source;active imaging systems;reliability improvement;voltage 32.0 V;current 1.5 A;GaN;Gallium nitride;Power generation;Substrates;Reliability;Imaging;Heat sinks;Terahertz radiation |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Photonik und Optische Nachrichtentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) |
| Hinterlegungsdatum: | 21 Mai 2019 11:13 |
| Letzte Änderung: | 13 Dez 2019 11:20 |
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