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Characterization and Deembedding of Negative Series Inductance in On-Wafer Measurements of Thin-Film All-Oxide Varactors

Walk, D. ; Kienemund, D. ; Zeinar, L. ; Salg, P. ; Radetinac, A. ; Komissinskiy, P. ; Alff, L. ; Jakoby, R. ; Maune, H. (2019)
Characterization and Deembedding of Negative Series Inductance in On-Wafer Measurements of Thin-Film All-Oxide Varactors.
In: IEEE Microwave and Wireless Components Letters
doi: 10.1109/lmwc.2019.2897901
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags:	Artikel
Erschienen:	2019
Autor(en):	Walk, D. ; Kienemund, D. ; Zeinar, L. ; Salg, P. ; Radetinac, A. ; Komissinskiy, P. ; Alff, L. ; Jakoby, R. ; Maune, H.
Art des Eintrags:	Bibliographie
Titel:	Characterization and Deembedding of Negative Series Inductance in On-Wafer Measurements of Thin-Film All-Oxide Varactors
Sprache:	Deutsch
Publikationsjahr:	2019
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe:	IEEE Microwave and Wireless Components Letters
DOI:	10.1109/lmwc.2019.2897901
Fachbereich(e)/-gebiet(e):	11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Dünne Schichten 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Mikrowellentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP)
Hinterlegungsdatum:	18 Mär 2019 07:22
Letzte Änderung:	13 Dez 2019 09:55
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