Boden, Jana ; Bächmann, K. ; Lotz, ; Fabry, ; Pahlke, (1995)
CZE application with an ITP initial state to determine anionic impurities on as-polished silicon wafer surfaces.
In: Journal of chromatography. A 696 (1995), S. 321-332
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Boden, Jana ; Bächmann, K. ; Lotz, ; Fabry, ; Pahlke, |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | CZE application with an ITP initial state to determine anionic impurities on as-polished silicon wafer surfaces |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of chromatography. A 696 (1995), S. 321-332 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 07 Fachbereich Chemie 07 Fachbereich Chemie > Eduard Zintl-Institut > Fachgebiet Anorganische Chemie |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 15:55 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:31 |
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