Walk, D. ; Salg, P. ; Kienemund, D. ; Radetinac, A. ; Zeinar, L. ; Schuster, C. ; Komissinskiy, P. ; Alff, L. ; Jakoby, R. ; Maune, H. (2018)
Characterization and Modeling of Epitaxially Grown BST on a Conducting Oxide Electrode.
2018 48th European Microwave Conference (EuMC).
doi: 10.23919/EuMC.2018.8541771
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2018 |
| Autor(en): | Walk, D. ; Salg, P. ; Kienemund, D. ; Radetinac, A. ; Zeinar, L. ; Schuster, C. ; Komissinskiy, P. ; Alff, L. ; Jakoby, R. ; Maune, H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Characterization and Modeling of Epitaxially Grown BST on a Conducting Oxide Electrode |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | September 2018 |
| Veranstaltungstitel: | 2018 48th European Microwave Conference (EuMC) |
| DOI: | 10.23919/EuMC.2018.8541771 |
| Freie Schlagworte: | barium compounds;capacitance;dielectric thin films;epitaxial growth;epitaxial layers;leakage currents;paramagnetic resonance;permittivity;strontium compounds;varactors;Q factor;effective capacitance;leakage current;epitaxial growth;EM-model;conducting oxide;thin film BST50 varactor growth;ESR;permittivity;frequency 1.0 GHz;Ba0.5Sr0.5TiO3;Q-factor;Electrodes;Varactors;Capacitance;Q measurement;Permittivity measurement;Frequency measurement |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Mikrowellentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) |
| Hinterlegungsdatum: | 06 Feb 2019 10:58 |
| Letzte Änderung: | 16 Dez 2019 11:49 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum