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Artikel, Zweitveröffentlichung, Verlagsversion

Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, Wolfram (2021)
Utilization of sputter depth profiling for the determination of band alignment at polycrystalline CdTe/CdS heterointerfaces.
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Artikel, Zweitveröffentlichung, Verlagsversion

Späth, B. ; Lakus-Wollny, K. ; Fritsche, J. ; Ferekides, C. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2007)
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Späth, B. ; Fritsche, J. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2007)
Nitrogen doping of ZnTe and its influence on CdTe∕ZnTe interfaces.
In: Applied Physics Letters, 90 (6)
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Späth, B. ; Fritsche, J. ; Säuberlich, F. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2005)
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Späth, B. ; Fritsche, J. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2005)
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Fritsche, J. ; Schulmeyer, T. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2003)
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Fritsche, J. ; Kraft, D. ; Thißen, A. ; Mayer, T. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2001)
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Fritsche, J. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2001)
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