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In-beam γ-ray spectroscopy of 38,40,42Si.
In: EPJ Web of Conferences, 66
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Artikel, Bibliographie

Takeuchi, S. ; Matsushita, M. ; Aoi, N. ; Doornenbal, P. ; Li, K. ; Motobayashi, T. ; Scheit, H. ; Steppenbeck, D. ; Wang, H. ; Baba, H. ; Bazin, D. ; Càceres, L. ; Crawford, H. ; Fallon, P. ; Gernhäuser, R. ; Gibelin, J. ; Go, S. ; Grévy, S. ; Hinke, C. ; Hoffman, C. ; Hughes, R. ; Ideguchi, E. ; Jenkins, D. ; Kobayashi, N. ; Kondo, Y. ; Krücken, R. ; Le Bleis, T. ; Lee, J. ; Lee, G. ; Matta, A. ; Michimasa, S. ; Nakamura, T. ; Ota, S. ; Petri, Marina ; Sako, T. ; Sakurai, H. ; Shimoura, S. ; Steiger, K. ; Takahashi, K. ; Takechi, M. ; Togano, Y. ; Winkler, R. ; Yoneda, K. (2012)
Well Developed Deformation in ^{42}Si.
In: Physical Review Letters, 109 (18)
doi: 10.1103/PhysRevLett.109.182501
Artikel, Bibliographie