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Anzahl der Einträge: 11.

Bayer, Thorsten J. M. ; Carter, J. J. ; Wang, Jian-Jun ; Klein, Andreas ; Chen, Long-Qing ; Randall, Clive A. (2021)
Determination of electrical properties of degraded mixed ionic conductors: Impedance studies with applied dc voltage.
In: Journal of Applied Physics, 122 (24)
doi: 10.26083/tuprints-00019913
Artikel, Zweitveröffentlichung, Verlagsversion

Rachut, Karsten ; Bayer, Thorsten J. M. ; Wolff, Jan O. ; Kmet, Brigita ; Benčan, Andreja ; Klein, Andreas (2019)
Off‐Stoichiometry of Magnetron Sputtered Ba 1− x Sr x TiO 3 Thin Films.
In: physica status solidi (b)
doi: 10.1002/pssb.201900148
Artikel, Bibliographie

Weidner, Mirko ; Fuchs, Anne ; Bayer, Thorsten J. M. ; Rachut, Karsten ; Schnell, Patrick ; Deyu, Getnet K. ; Klein, Andreas (2019)
Defect Modulation Doping.
In: Advanced Functional Materials, 29 (14)
doi: 10.1002/adfm.201807906
Artikel, Bibliographie

Giesecke, Ruth ; Hertwig, Ramis ; Bayer, Thorsten J. M. ; Randall, Clive A. ; Klein, Andreas (2017)
Modification of the Schottky Barrier Height at the RuO2 Cathode During Resistance Degradation of Fe-doped SrTiO3.
In: Journal of the American Ceramic Society, 100 (10)
doi: 10.1111/jace.14962
Artikel, Bibliographie

Wang, Jian-Jun ; Huang, Hou-Bing ; Bayer, Thorsten J. M. ; Moballegh, Ali ; Cao, Ye ; Klein, Andreas ; Dickey, Elizabeth C. ; Irving, Douglas L. ; Randall, Clive A. ; Chen, Long-Qing (2016)
Defect chemistry and resistance degradation in Fe-doped SrTiO3 single crystal.
In: Acta Materialia, 108
doi: 10.1016/j.actamat.2016.02.022
Artikel, Bibliographie

Deuermeier, Jonas ; Bayer, Thorsten J. M. ; Yanagi, Hiroshi ; Kiazadeh, Asal ; Martins, Rodrigo ; Klein, Andreas ; Fortunato, Elvira (2016)
Substrate reactivity as the origin of Fermi level pinning at the Cu2O/ALD-Al2O3interface.
In: Materials Research Express, 3 (4)
doi: 10.1088/2053-1591/3/4/046404
Artikel, Bibliographie

Hillmann, Stephan ; Rachut, Karsten ; Bayer, Thorsten J. M. ; Li, Shunyi ; Klein, Andreas (2015)
Application of atomic layer deposited Al2O3as charge injection layer for high-permittivity dielectrics.
In: Semiconductor Science and Technology, 30 (2)
doi: 10.1088/0268-1242/30/2/024012
Artikel, Bibliographie

Li, Shunyi ; Chen, Feng ; Schafranek, Robert ; Bayer, Thorsten J. M. ; Rachut, Karsten ; Fuchs, Anne ; Siol, Sebastian ; Weidner, Mirko ; Hohmann, Mareike ; Pfeifer, Verena ; Morasch, Jan ; Ghinea, Cosmina ; Arveux, Emmanuel ; Günzler, Richard ; Gassmann, Jürgen ; Körber, Christoph ; Gassenbauer, Yvonne ; Säuberlich, Frank ; Rao, Gutlapalli Venkata ; Payan, Sandrine ; Maglione, Mario ; Chirila, Cristina ; Pintilie, Lucian ; Jia, Lichao ; Ellmer, Klaus ; Naderer, Michael ; Reichmann, Klaus ; Böttger, Ulrich ; Schmelzer, Sebastian ; Frunza, Raluca C. ; Uršič, Hana ; Malič, Barbara ; Wu, Wen-Bin ; Erhart, Paul ; Klein, Andreas (2014)
Intrinsic energy band alignment of functional oxides.
In: physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters, 8 (6)
doi: 10.1002/pssr.201409034
Artikel, Bibliographie

Bayer, Thorsten J. M. ; Wachau, André ; Fuchs, Anne ; Deuermeier, Jonas ; Klein, Andreas (2012)
Atomic Layer Deposition of Al2O3 onto Sn-Doped In2O3: Absence of Self-Limited Adsorption during Initial Growth by Oxygen Diffusion from the Substrate and Band Offset Modification by Fermi Level Pinning in Al2O3.
In: Chemistry of Materials, 24 (23)
doi: 10.1021/cm301732t
Artikel, Bibliographie

Hohmann, Mareike V. ; Ágoston, Péter ; Wachau, André ; Bayer, Thorsten J. M. ; Broetz, Joachim ; Albe, Karsten ; Klein, Andreas (2011)
Orientation dependent ionization potential of In2O3: A natural source for inhomogeneous barrier formation at electrode interfaces in organic electronics.
In: Journal of Physics: Condensed Matter, 23 (33)
doi: 10.1088/0953-8984/23/33/334203
Artikel, Bibliographie

Li, Shunyi ; Ghinea, Cosmina ; Bayer, Thorsten J. M. ; Motzko, Markus ; Schafranek, Robert ; Klein, Andreas (2011)
Electrical properties of (Ba,Sr)TiO3 thin films with Pt and ITO electrodes: dielectric and rectifying behaviour.
In: Journal of Physics: Condensed Matter, 23 (33)
doi: 10.1088/0953-8984/23/33/334202
Artikel, Bibliographie

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