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1995

Horn, Joachim ; Marx, ; Weiss, ; Hartnagel, ; Stehle, ; Bischoff, ; Pagnia, (1995)
High resolution surface characterization using STM light emission techniques.
In: Passivation of metals and semiconductors, Auflage: Aedermannsdorf: Trans Tech Publ., 1995
Buchkapitel, Bibliographie

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