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Schmitt, L. A. ; Schrade, D. ; Kungl, H. ; Xu, Bai-Xiang ; Mueller, R. ; Hoffmann, M. J. ; Kleebe, H.-J. ; Fuess, H. (2012)
Bimodal domain configuration and wedge formation in tetragonal Pb Zr1-XTiX O-3.
In: Acta Crystallographica A: Foundations and Advances, 68
doi: 10.1107/s0108767312095256
Artikel, Bibliographie

Hoffmann, M. J. ; Kungl, H. ; Theissmann, R. ; Wagner, S.
Hrsg.: Heywang, W. ; Lubitz, K. ; Werding, W. (2008)
Microstructural Analysis Based on Microscopy and X-Ray Diffraction.
In: Piezoelectricity. Evolution and Future of a Technology.
doi: 10.1007/978-3-540-68683-5
Buchkapitel, Bibliographie

Vetrano, J. S. ; Kleebe, H.-J. ; Hampp, E. ; Hoffmann, M. J. ; Rühle, M. ; Cannon, R. M. (1993)
Yb2O3-Fluxed Sintered Silicon Nitride, Part 1 Microstructure Characterization.
In: Journal of Materials Science, 28 (13)
doi: 10.1007/bf01159834
Artikel, Bibliographie

Vetrano, J. S. ; Kleebe, H.-J. ; Hampp, E. ; Hoffmann, M. J. ; Cannon, R. M. (1992)
Epitaxial Deposition of Silicon-Nitride During Post-Sintering Heat-Treatment.
In: Journal of Materials Science Letters, 11 (18)
doi: 10.1007/BF00729782
Artikel, Bibliographie

Kleebe, H.-J. ; Hoffmann, M. J. ; Rühle, M. (1992)
Influence of Secondary Phase Chemistry on Grain-Boundary Film Thickness in Silicon-Nitride.
In: International Journal of Materials Research = Zeitschrift für Metallkunde, 83 (8)
doi: 10.1515/ijmr-1992-830808
Artikel, Bibliographie

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