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Conrad, J ; Alff, L ; Arnold, M ; Flege, S ; Grewe, R ; Hug, F ; Major, M ; Pietralla, N :
Soft chemical polishing and surface analysis of niobium samples.
[Online-Edition: https://doi.org/10.1088/1742-6596/1067/8/082009]
In: Journal of Physics: Conference Series, 1067 082009. ISSN 1742-6588
[Artikel] , (2018)

Niu, G ; Schubert, M A ; Sharath, S U ; Zaumseil, P ; Vogel, S ; Wenger, C ; Hildebrandt, E ; Bhupathi, S ; Perez, E ; Alff, L ; Lehmann, M ; Schroeder, T ; Niermann, T :
Electron holography on HfO2/HfO2−xbilayer structures with multilevel resistive switching properties.
[Online-Edition: https://doi.org/10.1088/1361-6528/aa6cd9]
In: Nanotechnology, 28 (21) p. 215702. ISSN 0957-4484
[Artikel] , (2017)

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