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Reversible Cu deintercalation on layered chalcogenide surfaces with scanning probe techniques: Towards nanometer scale storage devices

Jiang, L. ; Jaegermann, W. ; Pettenkofer, C. ; Tomm, Y. ; Iyoda, T. ; Hashimoto, K. ; Fujishima, A. (1997)
Reversible Cu deintercalation on layered chalcogenide surfaces with scanning probe techniques: Towards nanometer scale storage devices.
In: Advanced Materials, 9
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1997
Autor(en): Jiang, L. ; Jaegermann, W. ; Pettenkofer, C. ; Tomm, Y. ; Iyoda, T. ; Hashimoto, K. ; Fujishima, A.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Reversible Cu deintercalation on layered chalcogenide surfaces with scanning probe techniques: Towards nanometer scale storage devices
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1997
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Advanced Materials
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 9
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
Letzte Änderung: 20 Feb 2020 13:30
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