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A method to correct defocused element distribution maps in electron probe microanalysis

Kluckner, M. :
A method to correct defocused element distribution maps in electron probe microanalysis.
In: Microchimica acta. 125 (1997), S. 229-234
[Artikel], (1997)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1997
Autor(en): Kluckner, M.
Titel: A method to correct defocused element distribution maps in electron probe microanalysis
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Microchimica acta. 125 (1997), S. 229-234
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
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