Melzer, Christian ; Siol, Christopher ; Seggern, Heinz von (2013)
Transit Phenomena in Organic Field-Effect Transistors Through Kelvin-Probe Force Microscopy.
In: Advanced Materials, 25 (31)
doi: 10.1002/adma.201300004
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Melzer, Christian ; Siol, Christopher ; Seggern, Heinz von |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Transit Phenomena in Organic Field-Effect Transistors Through Kelvin-Probe Force Microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 21 August 2013 |
| Verlag: | Wiley VCH, Weinheim |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Advanced Materials |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 25 |
| (Heft-)Nummer: | 31 |
| DOI: | 10.1002/adma.201300004 |
| Freie Schlagworte: | organic field-effect Transistor, kelvin-probe force microscopy, transient current, field-effect mobility |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Elektronische Materialeigenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 18 Mai 2017 07:41 |
| Letzte Änderung: | 13 Aug 2021 14:08 |
| PPN: | |
| Sponsoren: | The authors would like to thank the Bundesministerium fur Bildung und Forschung (BMBF) for their financial support through Project No. 01BI564. |
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