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Characterisation of degradation mechanisms in resonant tunneling diodes

Vogt, Alexander ; Brandt, ; Sigurdardottir, ; Schüßler, ; Pena, ; Simon, ; Hartnagel, ; Rodewald, ; Roesner, :
Characterisation of degradation mechanisms in resonant tunneling diodes.
In: European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <8, 1997, Arcachon, France>: Proceedings. S. 1691-1694 .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1997)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1997
Autor(en): Vogt, Alexander ; Brandt, ; Sigurdardottir, ; Schüßler, ; Pena, ; Simon, ; Hartnagel, ; Rodewald, ; Roesner,
Titel: Characterisation of degradation mechanisms in resonant tunneling diodes
Sprache: Englisch
Reihe: European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <8, 1997, Arcachon, France>: Proceedings. S. 1691-1694
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
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