Niranjana, S. ; Goswami, S. N. N. ; Lal, K. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, Hans L.
Hrsg.: Kumar, Vikram (1997)
Determination of crystalline perfection and lattice-mismatch between gallium antimonide epitaxial films and gallium arsenide substrates.
9. International Workshop on Physics of Semiconductor Devices. New Delhi, India (December 16-20, 1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Herausgeber: | Kumar, Vikram |
| Autor(en): | Niranjana, S. ; Goswami, S. N. N. ; Lal, K. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Determination of crystalline perfection and lattice-mismatch between gallium antimonide epitaxial films and gallium arsenide substrates |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1997 |
| Ort: | New Delhi |
| Verlag: | Narosa Publ. House |
| Buchtitel: | Physics of semiconductor devices, Vol. 1 |
| Reihe: | SPIE proceedings series |
| Band einer Reihe: | 3316 |
| Veranstaltungstitel: | 9. International Workshop on Physics of Semiconductor Devices |
| Veranstaltungsort: | New Delhi, India |
| Veranstaltungsdatum: | December 16-20, 1997 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:04 |
| Letzte Änderung: | 12 Dez 2023 12:45 |
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