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Semiconductor heterostructure interface characterization using scanning tunneling microscope excited time-resolved luminescence

Horn, Joachim ; Vogt, ; Aller, ; Hartnagel, :
Semiconductor heterostructure interface characterization using scanning tunneling microscope excited time-resolved luminescence.
In: Journal of vacuum science and technology. B 14 (1996), S. 820-823
[Artikel], (1996)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1996
Autor(en): Horn, Joachim ; Vogt, ; Aller, ; Hartnagel,
Titel: Semiconductor heterostructure interface characterization using scanning tunneling microscope excited time-resolved luminescence
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of vacuum science and technology. B 14 (1996), S. 820-823
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
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