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Generalisation of the 'correlation plot' method for standard-free quantification of SIMS and SNMS measurements for samples containing three or more elements

Gastel, Michael ; Flege, Stefan ; Breuer, U. ; Ortner, H. M. :
Generalisation of the 'correlation plot' method for standard-free quantification of SIMS and SNMS measurements for samples containing three or more elements.
In: International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <11, 1999, Brussels>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.). - Amsterdam: Elsevier, 2000. S. 405-408 . Elsevier , Amsterdam
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1999)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1999
Autor(en): Gastel, Michael ; Flege, Stefan ; Breuer, U. ; Ortner, H. M.
Titel: Generalisation of the 'correlation plot' method for standard-free quantification of SIMS and SNMS measurements for samples containing three or more elements
Sprache: Englisch
Reihe: International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <11, 1999, Brussels>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.). - Amsterdam: Elsevier, 2000. S. 405-408
Ort: Amsterdam
Verlag: Elsevier
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
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