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Fault-based product-line testing: effective sample generation based on feature-diagram mutation

Reuling, Dennis ; Bürdek, Johannes ; Rotärmel, Serge ; Lochau, Malte ; Kelter, Udo :
Fault-based product-line testing: effective sample generation based on feature-diagram mutation.
[Online-Edition: http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074]
Proceedings of the 19th International Conference on Software Product Line (SPLC)
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2015)

Offizielle URL: http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074
Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2015
Autor(en): Reuling, Dennis ; Bürdek, Johannes ; Rotärmel, Serge ; Lochau, Malte ; Kelter, Udo
Titel: Fault-based product-line testing: effective sample generation based on feature-diagram mutation
Sprache: Englisch
Buchtitel: Proceedings of the 19th International Conference on Software Product Line (SPLC)
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Echtzeitsysteme
Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 15 Feb 2016 20:34
Offizielle URL: http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074
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