Reuling, Dennis ; Bürdek, Johannes ; Rotärmel, Serge ; Lochau, Malte ; Kelter, Udo
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Fault-based product-line testing: effective sample generation based on feature-diagram mutation.
[Online-Edition: http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074]
Proceedings of the 19th International Conference on Software Product Line (SPLC)
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2015)
Offizielle URL: http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074
| Typ des Eintrags: | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe) |
|---|---|
| Erschienen: | 2015 |
| Autor(en): | Reuling, Dennis ; Bürdek, Johannes ; Rotärmel, Serge ; Lochau, Malte ; Kelter, Udo |
| Titel: | Fault-based product-line testing: effective sample generation based on feature-diagram mutation |
| Sprache: | Englisch |
| Buchtitel: | Proceedings of the 19th International Conference on Software Product Line (SPLC) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Echtzeitsysteme Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 15 Feb 2016 20:34 |
| Offizielle URL: | http://doi.acm.org/10.1145/2791060.2791074 |
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