Lochau, Malte ; Goltz, Ursula
:
Feature Interaction Aware Test Case Generation for Embedded Control Systems.
In:
Electronic Notes in Theoretical Computer Science, 264
(3)
S. 37-52.
ISSN 1571-0661
[Artikel]
, (2010)
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2010 |
| Autor(en): | Lochau, Malte ; Goltz, Ursula |
| Titel: | Feature Interaction Aware Test Case Generation for Embedded Control Systems |
| Sprache: | Englisch |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Electronic Notes in Theoretical Computer Science |
| Band: | 264 |
| (Heft-)Nummer: | 3 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 05 Jun 2015 09:30 |
| Zusätzliche Informationen: | Proceedings of the Sixth Workshop on Model-Based Testing (MBT 2010) |
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