Perrouin, Gilles ; Oster, Sebastian ; Sen, Sagar ; Klein, Jacques ; Baudry, Benoit ; Traon, Yves Le
:
Pairwise Testing for Software Product Lines: Comparison of Two Approaches.
In:
Software Quality Journal - Special issue on Quality Engineering for Software Product Lines
[Artikel]
, (2011)
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2011 |
| Autor(en): | Perrouin, Gilles ; Oster, Sebastian ; Sen, Sagar ; Klein, Jacques ; Baudry, Benoit ; Traon, Yves Le |
| Titel: | Pairwise Testing for Software Product Lines: Comparison of Two Approaches |
| Sprache: | Englisch |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Software Quality Journal - Special issue on Quality Engineering for Software Product Lines |
| Ort: | Heidelberg |
| Verlag: | Springer Verlag |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik |
| Veranstaltungsort: | Heidelberg |
| Hinterlegungsdatum: | 01 Jun 2015 09:24 |
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