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Pairwise Testing for Software Product Lines: Comparison of Two Approaches

Perrouin, Gilles ; Oster, Sebastian ; Sen, Sagar ; Klein, Jacques ; Baudry, Benoit ; Traon, Yves Le :
Pairwise Testing for Software Product Lines: Comparison of Two Approaches.
In: Software Quality Journal - Special issue on Quality Engineering for Software Product Lines
[Artikel] , (2011)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2011
Autor(en): Perrouin, Gilles ; Oster, Sebastian ; Sen, Sagar ; Klein, Jacques ; Baudry, Benoit ; Traon, Yves Le
Titel: Pairwise Testing for Software Product Lines: Comparison of Two Approaches
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Software Quality Journal - Special issue on Quality Engineering for Software Product Lines
Ort: Heidelberg
Verlag: Springer Verlag
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
Veranstaltungsort: Heidelberg
Hinterlegungsdatum: 01 Jun 2015 09:24
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