Jaegermann, W. ; Kühne, H.-M. (1986)
XPS analysis of the oxidation reaction of ruthenium-chalcogenide photoelectrodes.
In: Applied Surface Science, 26 (1)
doi: 10.1016/0169-4332(86)90048-6
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1986 |
| Autor(en): | Jaegermann, W. ; Kühne, H.-M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | XPS analysis of the oxidation reaction of ruthenium-chalcogenide photoelectrodes |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1986 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Surface Science |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 26 |
| (Heft-)Nummer: | 1 |
| DOI: | 10.1016/0169-4332(86)90048-6 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 22 Apr 2015 08:47 |
| Letzte Änderung: | 22 Apr 2015 08:47 |
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