Scherer, Michael ; Saive, Rebecca ; Daume, Dominik ; Kröger, Michael ; Kowalsky, Wolfgang (2013)
Sample preparation for scanning Kelvin probe microscopy studies on cross
sections of organic solar cells.
In: AIP Advances, 3 (092134)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1063/1.4824323
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Scherer, Michael ; Saive, Rebecca ; Daume, Dominik ; Kröger, Michael ; Kowalsky, Wolfgang |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Sample preparation for scanning Kelvin probe microscopy studies on cross sections of organic solar cells |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2013 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | AIP Advances |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 3 |
| (Heft-)Nummer: | 092134 |
| Veranstaltungstitel: | JSAP-MRS Joint Symposia |
| Veranstaltungsort: | Kyoto, Japan |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1063/1.4824323 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) 16 Fachbereich Maschinenbau |
| Hinterlegungsdatum: | 06 Nov 2013 07:13 |
| Letzte Änderung: | 13 Nov 2013 09:32 |
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