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Scanning Kelvin Probe Microscopy on FIB-milled crosssections in organic semiconductor devices

Saive, Rebecca ; Ullrich, Florian ; Müller, Lars ; Scherer, Michael ; Daume, Dominik ; Kröger, Michael ; Kowalsky, Wolfgang (2012)
Scanning Kelvin Probe Microscopy on FIB-milled crosssections in organic semiconductor devices.
DPG conference. Berlin, Germany (25.03.-30.03.2012)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2012
Autor(en): Saive, Rebecca ; Ullrich, Florian ; Müller, Lars ; Scherer, Michael ; Daume, Dominik ; Kröger, Michael ; Kowalsky, Wolfgang
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Scanning Kelvin Probe Microscopy on FIB-milled crosssections in organic semiconductor devices
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2012
Veranstaltungstitel: DPG conference
Veranstaltungsort: Berlin, Germany
Veranstaltungsdatum: 25.03.-30.03.2012
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD)
16 Fachbereich Maschinenbau
Hinterlegungsdatum: 06 Nov 2013 07:00
Letzte Änderung: 06 Nov 2013 07:00
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