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Reducing Configurations to Monitor in a Software Product Line

Kim, Chang Hwan Peter ; Bodden, Eric ; Batory, Don ; Khurshid, Sarfraz :
Reducing Configurations to Monitor in a Software Product Line.
[Online-Edition: http://www.bodden.de/pubs/kbbk10reducing.pdf]
In: 1st International Conference on Runtime Verification (RV). In: LNCS , 6418 . Springer
[ Konferenzveröffentlichung] , (2010)

Offizielle URL: http://www.bodden.de/pubs/kbbk10reducing.pdf
Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2010
Autor(en): Kim, Chang Hwan Peter ; Bodden, Eric ; Batory, Don ; Khurshid, Sarfraz
Titel: Reducing Configurations to Monitor in a Software Product Line
Sprache: Englisch
Reihe: LNCS
Band: 6418
Verlag: Springer
Freie Schlagworte: clara
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 20 Fachbereich Informatik > Softwaretechnik
LOEWE > LOEWE-Zentren > CASED – Center for Advanced Security Research Darmstadt
20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE
20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE > Secure Software Engineering
20 Fachbereich Informatik
Zentrale Einrichtungen
LOEWE
LOEWE > LOEWE-Zentren
Veranstaltungstitel: 1st International Conference on Runtime Verification (RV)
Hinterlegungsdatum: 28 Sep 2012 11:09
Offizielle URL: http://www.bodden.de/pubs/kbbk10reducing.pdf
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