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High resolution electron microscopy of heavy-ion induced defects in superconducting Bi-2212 thin films in relations to their effect on Jc

Wiesner, J. :
High resolution electron microscopy of heavy-ion induced defects in superconducting Bi-2212 thin films in relations to their effect on Jc.
In: Physica. C 268 (1996), S. 161-172
[Artikel], (1996)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1996
Autor(en): Wiesner, J.
Titel: High resolution electron microscopy of heavy-ion induced defects in superconducting Bi-2212 thin films in relations to their effect on Jc
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Physica. C 268 (1996), S. 161-172
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:01
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