Dieringer, Rolf ; Becker, Wilfried (2010)
Numerical Analysis of Crack Initiation at Stress Concentrations in Printed Transistors.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2010 |
| Autor(en): | Dieringer, Rolf ; Becker, Wilfried |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Numerical Analysis of Crack Initiation at Stress Concentrations in Printed Transistors. |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2010 |
| Buchtitel: | Proceedings of LOPE-C 2010, International Conference and Exhibition for the Organic and Printed Electronic Industry, 31.05.-02.06.2010, Frankfurt/M, CD-ROM. |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau > Fachgebiet für Strukturmechanik (FSM) 16 Fachbereich Maschinenbau |
| Hinterlegungsdatum: | 27 Aug 2011 09:03 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:53 |
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