Cichos, Harald ; Heinze, Thomas
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Efficient Reduction of Model-Based Generated Test Suites Through Test Case Pair Prioritization.
[Online-Edition: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5772249...]
In: Proceedings of the 7th International Workshop on Model-Driven Engineering, Verification and Validation (MoDeVVa 2010).
In: IEEE Computer Society Press
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IEEE Computer Society Press
[
Konferenzveröffentlichung]
, (2011)
Dies ist die neueste Version dieses Eintrags.
Offizielle URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5772249...
Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung ( nicht bekannt) |
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Erschienen: | 2011 |
Autor(en): | Cichos, Harald ; Heinze, Thomas |
Titel: | Efficient Reduction of Model-Based Generated Test Suites Through Test Case Pair Prioritization |
Sprache: | Englisch |
Reihe: | IEEE Computer Society Press |
Verlag: | IEEE Computer Society Press |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik 20 Fachbereich Informatik |
Veranstaltungstitel: | Proceedings of the 7th International Workshop on Model-Driven Engineering, Verification and Validation (MoDeVVa 2010) |
Hinterlegungsdatum: | 22 Aug 2011 08:46 |
Offizielle URL: | http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5772249... |
Zusätzliche Informationen: | best paper award |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
-
Efficient Reduction of Model-Based Generated Test Suites Through Test Case Pair Prioritization. (deposited 09 Jun 2011 14:14)
- Efficient Reduction of Model-Based Generated Test Suites Through Test Case Pair Prioritization. (deposited 22 Aug 2011 08:46) [Gegenwärtig angezeigt]
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