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Efficient Reduction of Model-Based Generated Test Suites Through Test Case Pair Prioritization

Cichos, Harald ; Heinze, Thomas :
Efficient Reduction of Model-Based Generated Test Suites Through Test Case Pair Prioritization.
[Online-Edition: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5772249...]
In: Proceedings of the 7th International Workshop on Model-Driven Engineering, Verification and Validation (MoDeVVa 2010). In: IEEE Computer Society Press . IEEE Computer Society Press
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag] , (2011)

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Offizielle URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5772249...
Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2011
Autor(en): Cichos, Harald ; Heinze, Thomas
Titel: Efficient Reduction of Model-Based Generated Test Suites Through Test Case Pair Prioritization
Sprache: Englisch
Reihe: IEEE Computer Society Press
Verlag: IEEE Computer Society Press
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
20 Fachbereich Informatik
Veranstaltungstitel: Proceedings of the 7th International Workshop on Model-Driven Engineering, Verification and Validation (MoDeVVa 2010)
Hinterlegungsdatum: 22 Aug 2011 08:46
Offizielle URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5772249...
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