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Messspitzenabsenkung Spreading-Resistance-Messplatz

Archinal, Thomas (1988)
Messspitzenabsenkung Spreading-Resistance-Messplatz.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

Zusammenfassung:

Für die Fertigung von Halbleiterbauelementen an den Grenzen technologisch beherrschbarer Verfahren gewinnt die Prozeßüberwachung zunehmend an Bedeutung. Ihre Meßverfahren sind als "Istwertaufnehmer eines Qualitätsregelkreises" zu verstehen. Das Spreading-Resistence-Meßverfahren, bietet die Möglichkeit, Dotierstoffverteilungen, die sich aus den vollzogenen Prozessen (Diffusions-, Epitaxie-, Implantations- und Oxidationsprozesse) ergeben, über Messen und Auswerten des spezifischen Widerstandes zu bestimmen.

In der vorliegenden Arbeit wird kurz das Spreading-Resistance-Meßverfahren sowie der Spreading-Resistance-Meßplatz skizziert. Dabei wird erkennbar, daß eine Konstante und reproduzierbare Andruckkraft von erheblicher Relevanz für die Präzision des Meßverfahrens ist. Für den notwendigen Kraftregelmechanismus wurden die einzelnen Komponenten entwickelt:

Mechanismus zur Feinabsenkung: Als Führungselemente werden gewellte Membranfedern aus Hart-PVC (Dicke: 360µm) verwendet, deren Herstellung mit technologisch einfachen Mitteln beschrieben wird. Die Absenkkraft wird mit Hilfe eines Tauchanker-I-Magneten mit konischem Anker erzeugt, dessen Kraft-Weg-Kennlinie mit einem selbstentwickelten Programm auf Linearität optimiert wurde. Hubweg > 1,1mm (bei 100% Einschaltdauer).

Kapazitiver Kraftaufnehmer: Parallelführung und Gegenkrafterzeugung mit gewellten Messing Membranfedern.

Meßbereich: 10mN bis 3N. Zur Justage der Meßspitzen des Meßplatzes wurde ein Mechanismus entwickelt, der es erlaubt diese im Abstand zueinander (±1mm) zu justieren und auf eine Linie zu bringen (360 Grad).

Typ des Eintrags: Studienarbeit
Erschienen: 1988
Autor(en): Archinal, Thomas
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Messspitzenabsenkung Spreading-Resistance-Messplatz
Sprache: Deutsch
Referenten: Rienmüller, Dipl.-Ing. Thomas ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz
Publikationsjahr: 22 Juli 1988
Zugehörige Links:
Kurzbeschreibung (Abstract):

Zusammenfassung:

Für die Fertigung von Halbleiterbauelementen an den Grenzen technologisch beherrschbarer Verfahren gewinnt die Prozeßüberwachung zunehmend an Bedeutung. Ihre Meßverfahren sind als "Istwertaufnehmer eines Qualitätsregelkreises" zu verstehen. Das Spreading-Resistence-Meßverfahren, bietet die Möglichkeit, Dotierstoffverteilungen, die sich aus den vollzogenen Prozessen (Diffusions-, Epitaxie-, Implantations- und Oxidationsprozesse) ergeben, über Messen und Auswerten des spezifischen Widerstandes zu bestimmen.

In der vorliegenden Arbeit wird kurz das Spreading-Resistance-Meßverfahren sowie der Spreading-Resistance-Meßplatz skizziert. Dabei wird erkennbar, daß eine Konstante und reproduzierbare Andruckkraft von erheblicher Relevanz für die Präzision des Meßverfahrens ist. Für den notwendigen Kraftregelmechanismus wurden die einzelnen Komponenten entwickelt:

Mechanismus zur Feinabsenkung: Als Führungselemente werden gewellte Membranfedern aus Hart-PVC (Dicke: 360µm) verwendet, deren Herstellung mit technologisch einfachen Mitteln beschrieben wird. Die Absenkkraft wird mit Hilfe eines Tauchanker-I-Magneten mit konischem Anker erzeugt, dessen Kraft-Weg-Kennlinie mit einem selbstentwickelten Programm auf Linearität optimiert wurde. Hubweg > 1,1mm (bei 100% Einschaltdauer).

Kapazitiver Kraftaufnehmer: Parallelführung und Gegenkrafterzeugung mit gewellten Messing Membranfedern.

Meßbereich: 10mN bis 3N. Zur Justage der Meßspitzen des Meßplatzes wurde ein Mechanismus entwickelt, der es erlaubt diese im Abstand zueinander (±1mm) zu justieren und auf eine Linie zu bringen (360 Grad).

Freie Schlagworte: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Doppel-Tauchankermagnetsystem, Federn, Kraftmessung, Kraftmessung kapazitiv, Membranfeder, Messspitzen-Justage, Programmiersprache C, Spreading Resistance
ID-Nummer: 17/24 EMKS 778
Zusätzliche Informationen:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 778

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 18-05-1987

Ende Datum: 22-07-1988

Querverweis: 17/24 EMKS 450, Projektseminar PEM1, P16 W88, Projektseminar PEM1, P22 W88

Studiengang: Elektrotechnik (ET)

Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK)

Abschluss: Diplom (EMK)

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018)
Hinterlegungsdatum: 26 Okt 2011 07:57
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:52
PPN:
Referenten: Rienmüller, Dipl.-Ing. Thomas ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz
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