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IC-Testgerät

Kilian, Heinz (1988):
IC-Testgerät.
Technische Universität Darmstadt,
[Seminar paper (Midterm)]

Abstract

Zusammenfassung:

In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschrieben, mit dem TTL-IC's der 74'er und CMOS-Bausteine der 4000'er Serie getestet werden können. Die IC's werden auf ihre logische Funktion, nicht aber auf ihr Zeitverhalten hin geprüft. Das zu testende IC wird in einen 20-poligen Testsockel eingesetzt. Jeder Pin des Testsockels kann als Eingang oder als Ausgang angesprochen werden. Die Spannungsversorgung des zu testenten IC's wird über Reed-Relais geschaltet. Die Hardware ist so ausgelegt, daß das Testgerät durch falsches Einsetzen des IC's im Testsockel oder beim Testen eines defekten IC's nicht beschädigt werden kann. Über Leuchtdioden wird die Stelle markiert, an der das zu testende IC eingesetzt werden muß. Außerdem wird das Testergebnis angezeigt. Eine Wiederholtaste erleichtert die Bedienung, wenn mehrere IC's gleichen Typs getestet werden. Das Testgerät basiert auf einem Z80-Mikroprozessorsystem. Die Bedienung erfolgt mit Hilfe eines externen Rechners, der über Steuerbefehle mit dem Testgerät kommuniziert.

Item Type: Seminar paper (Midterm)
Erschienen: 1988
Creators: Kilian, Heinz
Title: IC-Testgerät
Language: German
Abstract:

Zusammenfassung:

In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschrieben, mit dem TTL-IC's der 74'er und CMOS-Bausteine der 4000'er Serie getestet werden können. Die IC's werden auf ihre logische Funktion, nicht aber auf ihr Zeitverhalten hin geprüft. Das zu testende IC wird in einen 20-poligen Testsockel eingesetzt. Jeder Pin des Testsockels kann als Eingang oder als Ausgang angesprochen werden. Die Spannungsversorgung des zu testenten IC's wird über Reed-Relais geschaltet. Die Hardware ist so ausgelegt, daß das Testgerät durch falsches Einsetzen des IC's im Testsockel oder beim Testen eines defekten IC's nicht beschädigt werden kann. Über Leuchtdioden wird die Stelle markiert, an der das zu testende IC eingesetzt werden muß. Außerdem wird das Testergebnis angezeigt. Eine Wiederholtaste erleichtert die Bedienung, wenn mehrere IC's gleichen Typs getestet werden. Das Testgerät basiert auf einem Z80-Mikroprozessorsystem. Die Bedienung erfolgt mit Hilfe eines externen Rechners, der über Steuerbefehle mit dem Testgerät kommuniziert.

Uncontrolled Keywords: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, CMOS, CMOS-Technologie, IC-Tester, Logik, TTL, Z80
Divisions: 18 Department of Electrical Engineering and Information Technology
18 Department of Electrical Engineering and Information Technology > Institute for Electromechanical Design (dissolved 18.12.2018)
Date Deposited: 26 Oct 2011 07:54
Additional Information:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 764

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 18-05-1987

Ende Datum: 11-11-1988

Querverweis: keiner

Studiengang: Elektrotechnik (ET)

Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK)

Abschluss: Diplom (EMK)

Identification Number: 17/24 EMKS 764
Referees: Merz, Dipl.-Ing. Diethard and Buschmann, Prof. Dr.- Heinrich
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