TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

IC-Testgerät

Kilian, Heinz (1988)
IC-Testgerät.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

Zusammenfassung:

In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschrieben, mit dem TTL-IC's der 74'er und CMOS-Bausteine der 4000'er Serie getestet werden können. Die IC's werden auf ihre logische Funktion, nicht aber auf ihr Zeitverhalten hin geprüft. Das zu testende IC wird in einen 20-poligen Testsockel eingesetzt. Jeder Pin des Testsockels kann als Eingang oder als Ausgang angesprochen werden. Die Spannungsversorgung des zu testenten IC's wird über Reed-Relais geschaltet. Die Hardware ist so ausgelegt, daß das Testgerät durch falsches Einsetzen des IC's im Testsockel oder beim Testen eines defekten IC's nicht beschädigt werden kann. Über Leuchtdioden wird die Stelle markiert, an der das zu testende IC eingesetzt werden muß. Außerdem wird das Testergebnis angezeigt. Eine Wiederholtaste erleichtert die Bedienung, wenn mehrere IC's gleichen Typs getestet werden. Das Testgerät basiert auf einem Z80-Mikroprozessorsystem. Die Bedienung erfolgt mit Hilfe eines externen Rechners, der über Steuerbefehle mit dem Testgerät kommuniziert.

Typ des Eintrags: Studienarbeit
Erschienen: 1988
Autor(en): Kilian, Heinz
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: IC-Testgerät
Sprache: Deutsch
Referenten: Merz, Dipl.-Ing. Diethard ; Buschmann, Prof. Dr.- Heinrich
Publikationsjahr: 11 November 1988
Zugehörige Links:
Kurzbeschreibung (Abstract):

Zusammenfassung:

In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschrieben, mit dem TTL-IC's der 74'er und CMOS-Bausteine der 4000'er Serie getestet werden können. Die IC's werden auf ihre logische Funktion, nicht aber auf ihr Zeitverhalten hin geprüft. Das zu testende IC wird in einen 20-poligen Testsockel eingesetzt. Jeder Pin des Testsockels kann als Eingang oder als Ausgang angesprochen werden. Die Spannungsversorgung des zu testenten IC's wird über Reed-Relais geschaltet. Die Hardware ist so ausgelegt, daß das Testgerät durch falsches Einsetzen des IC's im Testsockel oder beim Testen eines defekten IC's nicht beschädigt werden kann. Über Leuchtdioden wird die Stelle markiert, an der das zu testende IC eingesetzt werden muß. Außerdem wird das Testergebnis angezeigt. Eine Wiederholtaste erleichtert die Bedienung, wenn mehrere IC's gleichen Typs getestet werden. Das Testgerät basiert auf einem Z80-Mikroprozessorsystem. Die Bedienung erfolgt mit Hilfe eines externen Rechners, der über Steuerbefehle mit dem Testgerät kommuniziert.

Freie Schlagworte: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, CMOS, CMOS-Technologie, IC-Tester, Logik, TTL, Z80
ID-Nummer: 17/24 EMKS 764
Zusätzliche Informationen:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 764

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 18-05-1987

Ende Datum: 11-11-1988

Querverweis: keiner

Studiengang: Elektrotechnik (ET)

Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK)

Abschluss: Diplom (EMK)

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018)
Hinterlegungsdatum: 26 Okt 2011 07:54
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:52
PPN:
Referenten: Merz, Dipl.-Ing. Diethard ; Buschmann, Prof. Dr.- Heinrich
Zugehörige Links:
Export:
Suche nach Titel in: TUfind oder in Google
Frage zum Eintrag Frage zum Eintrag

Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen Redaktionelle Details anzeigen