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Influence of Relative Humidity on the Nanoscopic Topography and Dielectric Constant of Thin Films of PPy:PSS

Sun, Ling ; Wang, Jianjun ; Butt, Hans-Jürgen ; Bonaccurso, Elmar (2011)
Influence of Relative Humidity on the Nanoscopic Topography and Dielectric Constant of Thin Films of PPy:PSS.
In: Small, 7 (7)
doi: 10.1002/smll.201100204
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2011
Autor(en): Sun, Ling ; Wang, Jianjun ; Butt, Hans-Jürgen ; Bonaccurso, Elmar
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Influence of Relative Humidity on the Nanoscopic Topography and Dielectric Constant of Thin Films of PPy:PSS
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2011
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Small
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 7
(Heft-)Nummer: 7
DOI: 10.1002/smll.201100204
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Zentrale Einrichtungen
nicht bekannt
Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster > Center of Smart Interfaces (CSI)
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Exzellenzinitiative
Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster
Hinterlegungsdatum: 27 Jul 2011 17:04
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:51
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