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Higher-order modes in a 36-cell test structure

Kurz, M. ; Müller, ; Niermann, ; Hülsmann, ; Klein, ; van Rienen, ; Podebrad, ; Weiland, ; Dohlus, ; Müller, ; Niermann, ; Hülsmann, ; Klein, ; van Rienen, ; Podebrad, ; Weiland, ; Dohlus, :
Higher-order modes in a 36-cell test structure.
In: European Particle Accelerator Conference <1996, Sitges/Barcelona>: Proceedings. Vol. 1, S. 322-324 .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1996)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1996
Autor(en): Kurz, M. ; Müller, ; Niermann, ; Hülsmann, ; Klein, ; van Rienen, ; Podebrad, ; Weiland, ; Dohlus, ; Müller, ; Niermann, ; Hülsmann, ; Klein, ; van Rienen, ; Podebrad, ; Weiland, ; Dohlus,
Titel: Higher-order modes in a 36-cell test structure
Sprache: Englisch
Reihe: European Particle Accelerator Conference <1996, Sitges/Barcelona>: Proceedings. Vol. 1, S. 322-324
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:00
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