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Chemical characterization of modified nanotips by TOF-SIMS and Laser-SNMS

Kamischke, R. ; Kollmer, F. ; Fuchs, H. ; Stark, R. ; Heckl, W. ; Benninghoven, A. (1999)
Chemical characterization of modified nanotips by TOF-SIMS and Laser-SNMS.
Proc. XII Conf. on Secondary Ion Mass Spectroscopy SIMS XII. Brussels
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1999
Autor(en): Kamischke, R. ; Kollmer, F. ; Fuchs, H. ; Stark, R. ; Heckl, W. ; Benninghoven, A.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Chemical characterization of modified nanotips by TOF-SIMS and Laser-SNMS
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1999
Veranstaltungstitel: Proc. XII Conf. on Secondary Ion Mass Spectroscopy SIMS XII
Veranstaltungsort: Brussels
Fachbereich(e)/-gebiet(e): nicht bekannt
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Hinterlegungsdatum: 09 Sep 2010 08:23
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:36
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