Stark, R. W. ; Schitter, G. ; Stemmer, A. (2003)
Tuning Tip-sample forces in dynamic atomic force microscopy.
Proc. 12th Int. Conf. on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques 2003 (STM'03). Eindhoven, Netherlands
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2003 |
| Autor(en): | Stark, R. W. ; Schitter, G. ; Stemmer, A. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Tuning Tip-sample forces in dynamic atomic force microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2003 |
| Veranstaltungstitel: | Proc. 12th Int. Conf. on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques 2003 (STM'03) |
| Veranstaltungsort: | Eindhoven, Netherlands |
| ID-Nummer: | (pdf ©2003 AIP, AIP Proceedings No 696). |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | nicht bekannt ?? fb99_csi~fg5 ?? Zentrale Einrichtungen |
| Hinterlegungsdatum: | 08 Sep 2010 12:59 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:36 |
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