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Tiefenselektive Phasenanalyse von ionenimplantiertem Edelstahl

Walter, Gertrud ; Heitzmann, ; Nagel, ; Stahl, ; Rück, ; Gellert, ; Geiss, ; Klingelhöfer, ; Kankeleit, :
Tiefenselektive Phasenanalyse von ionenimplantiertem Edelstahl.
In: Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. R. 6. Bd. 31 (1996), S. 1192
[Artikel], (1996)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1996
Autor(en): Walter, Gertrud ; Heitzmann, ; Nagel, ; Stahl, ; Rück, ; Gellert, ; Geiss, ; Klingelhöfer, ; Kankeleit,
Titel: Tiefenselektive Phasenanalyse von ionenimplantiertem Edelstahl
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. R. 6. Bd. 31 (1996), S. 1192
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Physik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:59
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