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Mechanism of charge decay in UV-irradiated SiO2 electret films

Amjadi, Houman ; Sessler, Gerhard M. :
Mechanism of charge decay in UV-irradiated SiO2 electret films.
In: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena <68, 1999, Austin, Texas>: Proceedings. - New York, NY: IEEE, 1999. S. 78-81 . IEEE , New York, NY
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1999)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1999
Autor(en): Amjadi, Houman ; Sessler, Gerhard M.
Titel: Mechanism of charge decay in UV-irradiated SiO2 electret films
Sprache: Englisch
Reihe: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena <68, 1999, Austin, Texas>: Proceedings. - New York, NY: IEEE, 1999. S. 78-81
Ort: New York, NY
Verlag: IEEE
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:59
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