| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
|
| Erschienen: |
1999 |
| Autor(en): |
Amjadi, Houman ; Sessler, Gerhard M. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Mechanism of charge decay in UV-irradiated SiO2 electret films |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
1999 |
| Ort: |
New York, NY |
| Verlag: |
IEEE |
| Reihe: |
Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena <68, 1999, Austin, Texas>: Proceedings. - New York, NY: IEEE, 1999. S. 78-81 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 15:59 |
| Letzte Änderung: |
16 Jul 2014 12:57 |
| PPN: |
|
| Export: |
|
| Suche nach Titel in: |
TUfind oder in Google |
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum