Stark, R. W. ; Heckl, W. M. (2000)
Fourier transformed force microscopy: tapping mode atomic force microscopy beyond the Hookian approximation.
In: Surface Science, 457 (1-2)
doi: 10.1016/S0039-6028(00)00378-2
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Stark, R. W. ; Heckl, W. M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Fourier transformed force microscopy: tapping mode atomic force microscopy beyond the Hookian approximation |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1 Juni 2000 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Surface Science |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 457 |
| (Heft-)Nummer: | 1-2 |
| DOI: | 10.1016/S0039-6028(00)00378-2 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen ?? fb99_csi~fg5 ?? |
| Hinterlegungsdatum: | 21 Jun 2010 13:21 |
| Letzte Änderung: | 23 Apr 2020 09:45 |
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