Gigler, A. M. ; Huber, A. J. ; Bauer, M. ; Ziegler, A. ; Hillenbrand, R. ; Stark, R. W. (2009)
Nanoscale residual stress-field mapping around nanoindents in SiC by IR s-SNOM and confocal Raman microscopy.
In: Optics Express, 17 (25)
doi: 10.1364/OE.17.022351
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2009 |
| Autor(en): | Gigler, A. M. ; Huber, A. J. ; Bauer, M. ; Ziegler, A. ; Hillenbrand, R. ; Stark, R. W. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Nanoscale residual stress-field mapping around nanoindents in SiC by IR s-SNOM and confocal Raman microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2009 |
| Verlag: | Optical Society of America (OSA) |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Optics Express |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 17 |
| (Heft-)Nummer: | 25 |
| DOI: | 10.1364/OE.17.022351 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen ?? fb99_csi~fg5 ?? |
| Hinterlegungsdatum: | 04 Jun 2010 10:19 |
| Letzte Änderung: | 23 Apr 2020 13:09 |
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