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Identification of iron oxide phases in thin films grown on Al2O3(0001)by Raman spectroscopy and X-ray diffraction

Lübbe, M. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Moritz, W. (2010)
Identification of iron oxide phases in thin films grown on Al2O3(0001)by Raman spectroscopy and X-ray diffraction.
In: Surface Science, 604 (7-8)
doi: 10.1016/j.susc.2010.01.015
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2010
Autor(en): Lübbe, M. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Moritz, W.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Identification of iron oxide phases in thin films grown on Al2O3(0001)by Raman spectroscopy and X-ray diffraction
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 15 April 2010
Verlag: Elsevier
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Surface Science
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 604
(Heft-)Nummer: 7-8
DOI: 10.1016/j.susc.2010.01.015
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Physics of Surfaces
Exzellenzinitiative
Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster
Zentrale Einrichtungen
Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster > Center of Smart Interfaces (CSI)
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Hinterlegungsdatum: 04 Jun 2010 09:46
Letzte Änderung: 23 Apr 2020 12:58
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