Wiesner, J. (1996)
High resolution electron microscopy of heavy-ion induced defects in superconducting Bi-2212 thin films in relations to their effect on Jc.
In: Physica. C 268 (1996), S. 161-172
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Autor(en): | Wiesner, J. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | High resolution electron microscopy of heavy-ion induced defects in superconducting Bi-2212 thin films in relations to their effect on Jc |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Physica. C 268 (1996), S. 161-172 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 15:59 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:31 |
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