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Simulation of thermal induced package effects with regard to piezoresistive pressure sensors

Schilling, Frank (1996)
Simulation of thermal induced package effects with regard to piezoresistive pressure sensors.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1996
Autor(en): Schilling, Frank
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Simulation of thermal induced package effects with regard to piezoresistive pressure sensors
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1996
Ort: Heverlee, Belgium
Verlag: Catholic Univ. Leuven
Reihe: Proceedings of Eurosensors X, the 10th European Conference on Solid-State Transducers, Sept. 1996, Leuven, Belgium. S. 1221-1224
Auflage: Heverlee, Belgium: Catholic Univ. Leuven, 1996
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:59
Letzte Änderung: 26 Aug 2018 21:21
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