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Structure of thin block copolymer films studied by X-ray reflectivity

Mutter, R. ; Strobl, G. ; Stühn, B. (1993)
Structure of thin block copolymer films studied by X-ray reflectivity.
In: Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 346 (1-3)
Artikel, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

X-ray reflectivity may be used to determine the internal structure of thin polymer films. An electron density difference of 10% for polystyrene and polyisoprene is sufficient to distinguish between a random distribution of lamellae, complete orientation parallel to the substrate surface and a surface induced formation of lamellae. The disappearance of the lamellar Bragg-peaks, with heating of the film, shows the transition into the disordered state.

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1993
Autor(en): Mutter, R. ; Strobl, G. ; Stühn, B.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Structure of thin block copolymer films studied by X-ray reflectivity
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: Mai 1993
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Fresenius Journal of Analytical Chemistry
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 346
(Heft-)Nummer: 1-3
Kurzbeschreibung (Abstract):

X-ray reflectivity may be used to determine the internal structure of thin polymer films. An electron density difference of 10% for polystyrene and polyisoprene is sufficient to distinguish between a random distribution of lamellae, complete orientation parallel to the substrate surface and a surface induced formation of lamellae. The disappearance of the lamellar Bragg-peaks, with heating of the film, shows the transition into the disordered state.

Zusätzliche Informationen:

7TH WORKING CONF ON APPLIED SURFACE ANALYSIS, JULICH, GERMANY, JUN 22-25, 1992

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 05 Fachbereich Physik
05 Fachbereich Physik > Institut für Festkörperphysik (2021 umbenannt in Institut für Physik Kondensierter Materie (IPKM))
Hinterlegungsdatum: 26 Feb 2010 13:52
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:32
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