TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits

Günther, Michael ; Rentrop, ; Rentrop, :
The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits.
In: Neue Anwendungen theoretischer Konzepte in der Elektrotechnik mit Gedenksitzung zum 50. Todestag von Wilhelm Cauer. Hrsg.: W. Mathis (u.a.) S. 27-33. VDE-Verl, Berlin (u.a.)
[Buchkapitel], (1996)

Typ des Eintrags: Buchkapitel
Erschienen: 1996
Autor(en): Günther, Michael ; Rentrop, ; Rentrop,
Titel: The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits
Sprache: Englisch
Buchtitel: Neue Anwendungen theoretischer Konzepte in der Elektrotechnik mit Gedenksitzung zum 50. Todestag von Wilhelm Cauer. Hrsg.: W. Mathis (u.a.) S. 27-33
Ort: Berlin (u.a.)
Verlag: VDE-Verl
Edition: Berlin (u.a.): VDE-Verl., 1996
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Mathematik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:59
Export:

Optionen (nur für Redakteure)

Eintrag anzeigen Eintrag anzeigen