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The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits

Günther, Michael and Rentrop, and Rentrop, (1996):
The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits.
In: Neue Anwendungen theoretischer Konzepte in der Elektrotechnik mit Gedenksitzung zum 50. Todestag von Wilhelm Cauer. Hrsg.: W. Mathis (u.a.) S. 27-33, Berlin (u.a.): VDE-Verl., 1996,
Berlin (u.a.), VDE-Verl, [Book Section]

Item Type: Book Section
Erschienen: 1996
Creators: Günther, Michael and Rentrop, and Rentrop,
Title: The NAND-gate: a benchmark test for the numerical solution of digital circuits
Language: English
Title of Book: Neue Anwendungen theoretischer Konzepte in der Elektrotechnik mit Gedenksitzung zum 50. Todestag von Wilhelm Cauer. Hrsg.: W. Mathis (u.a.) S. 27-33
Place of Publication: Berlin (u.a.)
Publisher: VDE-Verl
Edition: Berlin (u.a.): VDE-Verl., 1996
Divisions: 04 Department of Mathematics
Date Deposited: 19 Nov 2008 15:59
License: [undefiniert]
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