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Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials

Kaiser, G. ; Meyer, ; Frieß, ; Riedel, ; Harris, ; Jacob, ; Tölg, :
Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials.
In: Fresenius' journal of analystical chemistry. 352 (1995), S. 318-326
[Artikel], (1995)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1995
Autor(en): Kaiser, G. ; Meyer, ; Frieß, ; Riedel, ; Harris, ; Jacob, ; Tölg,
Titel: Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Fresenius' journal of analystical chemistry. 352 (1995), S. 318-326
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Keine Angabe
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:58
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