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Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials

Kaiser, G. ; Meyer, A. ; Friess, M. ; Riedel, R. ; Harris, M. ; Jacob, E. ; Tölg, G. (1995)
Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials.
In: Fresenius' journal of analystical chemistry, 352 (3)
doi: 10.1007/BF00322228
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1995
Autor(en): Kaiser, G. ; Meyer, A. ; Friess, M. ; Riedel, R. ; Harris, M. ; Jacob, E. ; Tölg, G.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Critical comparison of ICP-OES, XRF, and fluorine volatilization-FTIR spectrometry for the reliable determination of the silicon main constituent in ceramic materials
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1995
Verlag: Springer
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Fresenius' journal of analystical chemistry
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 352
(Heft-)Nummer: 3
DOI: 10.1007/BF00322228
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Disperse Feststoffe
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:58
Letzte Änderung: 18 Dez 2023 07:31
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