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Fabrication and Characterisation of Nanoscale Schottky-S/D-MOSFETs and Gated Nanowire Devices on Ultra Thin Body SOI Material

Wessely, Frank ; Ruland, Tino ; Schwalke, Udo (2007)
Fabrication and Characterisation of Nanoscale Schottky-S/D-MOSFETs and Gated Nanowire Devices on Ultra Thin Body SOI Material.
European Congress on Advanced Materials and Processes (EUROMAT). Nürnberg, Deutschland (10.-13.09.2007)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2007
Autor(en): Wessely, Frank ; Ruland, Tino ; Schwalke, Udo
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Fabrication and Characterisation of Nanoscale Schottky-S/D-MOSFETs and Gated Nanowire Devices on Ultra Thin Body SOI Material
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 13 September 2007
Veranstaltungstitel: European Congress on Advanced Materials and Processes (EUROMAT)
Veranstaltungsort: Nürnberg, Deutschland
Veranstaltungsdatum: 10.-13.09.2007
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:28
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:16
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