Wessely, Frank ; Ruland, Tino ; Schwalke, Udo
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Fabrication and Characterisation of Nanoscale Schottky-S/D-MOSFETs and Gated Nanowire Devices on Ultra Thin Body SOI Material.
In: European Congress on Advanced Materials and Processes (EUROMAT), 10.-13.09.2007, Nürnberg, Deutschland.
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2007)
| Typ des Eintrags: | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe) |
|---|---|
| Erschienen: | 2007 |
| Autor(en): | Wessely, Frank ; Ruland, Tino ; Schwalke, Udo |
| Titel: | Fabrication and Characterisation of Nanoscale Schottky-S/D-MOSFETs and Gated Nanowire Devices on Ultra Thin Body SOI Material |
| Sprache: | Englisch |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Veranstaltungstitel: | European Congress on Advanced Materials and Processes (EUROMAT) |
| Veranstaltungsort: | Nürnberg, Deutschland |
| Veranstaltungsdatum: | 10.-13.09.2007 |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:28 |
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