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Dielectric interface modification by UV irradiation : a novel method to control OFET charge carrier transport properties

Benson, Niels ; Schidleja, Martin ; Siol, Christopher ; Melzer, Christian ; Seggern, Heinz von :
Dielectric interface modification by UV irradiation : a novel method to control OFET charge carrier transport properties.
In: Proceedings of SPIE, 6658 0W.
[Artikel], (2007)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2007
Autor(en): Benson, Niels ; Schidleja, Martin ; Siol, Christopher ; Melzer, Christian ; Seggern, Heinz von
Titel: Dielectric interface modification by UV irradiation : a novel method to control OFET charge carrier transport properties
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Proceedings of SPIE
Band: 6658
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:27
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