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Charge carrier traps in organic diodes: comparing experiment and numerical simulation

Golovchan, Alexey V. ; Genenko, Yuri A. ; Melzer, Christian ; von Seggern, Heinz :
Charge carrier traps in organic diodes: comparing experiment and numerical simulation.
In: EUROMAT 2007 <Nürnberg, Deutschland,2007> .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2007)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2007
Autor(en): Golovchan, Alexey V. ; Genenko, Yuri A. ; Melzer, Christian ; von Seggern, Heinz
Titel: Charge carrier traps in organic diodes: comparing experiment and numerical simulation
Sprache: Englisch
Reihe: EUROMAT 2007 <Nürnberg, Deutschland,2007>
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:26
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