Schwalke, Udo ; Stefanov, Yordan ; Komaragiri, Rama Subrahmanyam ; Ruland, Tino (2003)
Electrical Characterisation of Crystalline Praseodymium Oxide High-K Gate Dielectric MOSFETs.
In: Proceedings of the 33rd European Solid State Device Research Conference (ESSDERC)
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2003 |
| Autor(en): | Schwalke, Udo ; Stefanov, Yordan ; Komaragiri, Rama Subrahmanyam ; Ruland, Tino |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Electrical Characterisation of Crystalline Praseodymium Oxide High-K Gate Dielectric MOSFETs |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 18 September 2003 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Proceedings of the 33rd European Solid State Device Research Conference (ESSDERC) |
| Veranstaltungstitel: | European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) |
| Veranstaltungsort: | Estoril, Portugal |
| Veranstaltungsdatum: | 16.-18.09.2003 |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1109/ESSDERC.2003.1256859 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:24 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:25 |
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