TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Investigation of the impact of Al mole-fraction on the consequences of RF stress on AlxGa1-xN/GaN MODFETs

Valizadeh, P. ; Pavlidis, D. (2005)
Investigation of the impact of Al mole-fraction on the consequences of RF stress on AlxGa1-xN/GaN MODFETs.
In: IEEE Transactions on Electron Devices, 52
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2005
Autor(en): Valizadeh, P. ; Pavlidis, D.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Investigation of the impact of Al mole-fraction on the consequences of RF stress on AlxGa1-xN/GaN MODFETs
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2005
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: IEEE Transactions on Electron Devices
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 52
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:23
Letzte Änderung: 20 Feb 2020 13:25
PPN:
Export:
Suche nach Titel in: TUfind oder in Google
Frage zum Eintrag Frage zum Eintrag

Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen Redaktionelle Details anzeigen