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Effects of RF and DC stress on AlGaN/GaN MODFETs : a low-frequency noise based investigation

Valizadeh, P. ; Pavlidis, D. :
Effects of RF and DC stress on AlGaN/GaN MODFETs : a low-frequency noise based investigation.
In: IEEE Transactions on Materials and Device Reliability, 5 pp. 555-563.
[Artikel], (2005)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2005
Autor(en): Valizadeh, P. ; Pavlidis, D.
Titel: Effects of RF and DC stress on AlGaN/GaN MODFETs : a low-frequency noise based investigation
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: IEEE Transactions on Materials and Device Reliability
Band: 5
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:23
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